Salut,
GC339, j'ai l'impression que tu as bien réfléchi/étudié le schéma
Alors, l'utilisation de 74HCT ne m'a pas parue nécessaire au niveau des entrées.
Tout simplement car le seuil de déclenchement sur les entrées n'a pas une "très grande" importance, le plus important c'est qu'il se déclenche en même temps, c'est pour ça qu'ils arrivent tous deux sur la même porte.
La capa de filtrage n'a pas de résistance série tout simplement car il y en a une en interne des 74HC (rappelle toi ce que je te disais sur ton remplacement de convertisseur N/A)
Le condensateur polarisé est dans le bon sens.
Je m'explique, au repos l'entrée du 74HC04 est à ~3,3v, sa sortie à zero.
On a donc la sortie de U6 est à 1 (led éteinte).
Lorsqu'un défaut arrive, la sortie de U6 passe à zero, comme C1 est à peine chargé (5v - 3v3) la tension en entrée de U5 passe instantanément à zero (~-0,6v comme tu l'expliquais), sa sortie à 1.
Ceci maintient donc la tension de sortie de U6 à zero (le défaut peut même disparaitre).
Comme l'état de la sortie de u6 est "auto maintenue", C1 se charge à travers de R1. Et c'est là qu'on s'aperçoit que C1 est dans le bon sens, le côté - du côté de la masse (à travers U6), le côté + sur l'alim (à travers R1)
Le condo vas se charger jusqu'à atteindre la tension de déclenchement de U5, et si le défaut a disparu, nous avons de nouveau 0 aux deux entrées de U6, ce qui le fait repasser à 1, l'état de repos.
La zener permet justement d'éviter les surtensions à l'entrée de U5 lorsque u6 repasse à 1, car on a 5v à la sortie de u6 + la tension chargée de C1 qui arrive sur U5, donc 5v + ~2v5v, risque de cramage de la porte ;-) (c'est un peu l'effet pompe à diode)
Pour info, sur ma carte, je me suis pas embêté, j'ai trouvé des 3,3µF en céramique (donc non polarisées) en CMS et en taille 0603
Il doit y avoir deux sorties pour chaque broche du composant étalon, une par face puisque le connecteur est un 2×32 contacts :
- Le coté soudures correspond au OU exclusif du testeur.
- Le coté composants correspond au composant logique à tester puisque c'est sur cette face que les pistes doivent être interrompues.
Oui, c'est exactement ça, une face pour les pattes qui rentrent, une pour celles qui vont vers le testeur.
L'idée d'une carte universelle avec fpga est intéressante mais trop longues à développer par rapport au coût de quelques TTL de référence. Sachant qu'avec un FPGA, il faudrait pouvoir gérer les temps de propagation de référence des différentes série de TTL..
Mais non, c'est un truc plus simple, j'aimerais pouvoir tester aussi les RAMs grâce à cet outil.
Un truc tout simple, du genre, lors d'une écriture, la ram étalon et la ram de la carte ont la donnée stockée, et lors d'une lecture, je fais la comparaison entre l'étalon et la ram de la carte.
Vu le nombre de problèmes de RAM qu'il y a sur les PCB, je pense que ce sera vite rentabilisé.
Pour info, la carte dépannée, j'ai utilisé cet outil pour comparer des RAM mais de modèle utilisable directement avec l'outil, une 4164 où la patte de donnée entrante et celle sortante sont séparée.
A bientôt
